产品说明
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高通量 XRF（超微区涂镀层与成分分析设备）
高通量 XRF 是一款专为微区检测与高精度分析设计的设备，采用高激发效率光路与 μm 级微小光斑，可实现超微区镀层检测、微差异分析与纳米级薄膜测量。设备适用于精密连接器、晶圆前道、贵金属微镀层等高端检测场景，是精密制造行业的重要检测工具。
产品特点
**1. μm 级光斑（最小 30 μm）**
采用微小光斑设计，可检测微区结构与微小样品，适合精密电子与半导体行业。
**2. 高激发效率光路系统**
光路激发效率提升，可显著增强信号强度，适合纳米级薄膜与微差异检测。
**3. 适用于纳米级薄膜检测**
可检测 Au、Pd、Ni 等纳米级薄膜结构，适用于晶圆前道与贵金属微镀层。
**4. 支持大行程自动检测**
可搭配自动平台，实现大尺寸样品与多点位检测。
**5. 可选配真空吸附平台**
适用于薄片类材料、柔性板、玻璃片等样品的稳定固定。
典型应用
- 精密连接器 Au/Pd/Ni/Cu 微镀层检测
- 晶圆前道薄膜厚度与成分分析
- 纳米级贵金属镀层检测
- 微区差异分析（微小区域成分变化）
- FPC 金手指镀层检测
- 薄片类材料固定检测（可选真空吸附平台）
选型建议
- 若需要微区检测 → 推荐高通量 XRF
- 若需要纳米级薄膜检测 → 推荐此型号
- 若样品为精密连接器或晶圆 → 高通量型号最适合
- 若需要超微点（10 μm） → 可选择毛细聚焦型号
- 若需要自动化检测 → 可选择自动化或全自动型号
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